衡升科技致力于最先进的设备测量技术。从2010年起，衡升科技发表SA系列是应用在SEM系统的故障分析，STA系列是适用于STM系统中，
MS系列应用在Hitachi 系统的SEM做分析，TFA系列则用在TEM系统的物品挑取，衡升科技更拥有完善及大规模生产奈米级探针的能力，能够制作出比10奈米更小的技术。
除了销售奈米级的探针之外，衡升还提供了微米级探针使用于常规电气性能的分析。FA和PFA系列使用于光学显微镜探针台上的样品上及电路修补。
为了满足市场和技术上的需求，衡升提供250奈米曲率半径的FA系列及50奈米曲率半径PFA系列来满足不同的应用。
衡升科技在2021年开发了MST技术，并导入其生产线来制造所有的探针。
探针表面清洁(MST)技术，其可以有效控制探针形貌以及表面清洁度，搭配严格的规范制定以及多道的质量管控及独特设计的包装方式，以确保所有产品都可以满足客户的标准。
2006 / 07
衡升科技设立于台北，台湾。
2010
提供CR35应用在28奈米的故障分析技术上。
2012
提供CR20应用在20奈米的故障分析技术上。
2013
提供CR10应用在14奈米的故障分析技术上。
2015
提供CR5应用在7奈米的故障分析技术上。
2018/04
提供CR5应用在7衡升科技总部移至新竹科学园区。
2019
代理德国Kleindiek Nanotechnik的 Nanoprobing系统。
2020
提供CR5+应用在3奈米的故障分析技术上。
2021
衡升科技获得ISO9001认证。
衡升科技在2021年开发了MST技术。
2022
衡升科技预计取得ISO17025认证。
2023
衡升科技预计取得ISO27001认证。
