衡升科技提供 Nano Probing 的Direct Short 解决方案
- 最新消息
- ·
- 2022-03-05
使用Nano Probing 定位Direct Short defect点
在传统的故障分析手法中，Direct Short 一直是让使用者头痛的问题之一。由于阻值偏低，EBIRCH无法呈现明显讯号 ; EBAC又会让所有导通的路径都亮起。
衡升科技使用最先进的E-Beam Amplifier 可以准确定位200 ohm 以下的short异常点
透过Nano Probing 搭配E-Beam定位手法判读low ohmic 讯号位置
旋转角度并且Zoom in 确认讯号真伪
