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MSCT-SA025TPL013TC025-CR1B

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MSCT-SA025TPL013TC025-CR1B

CR1是应用在2nm以下制程故障分析。

  • 可使用在FEI, Kleindiek, Tescan, Joel以及Zeiss系统上
  • 不须经过化学清洗过程即可使用
  • 在包装之前，每支针皆有经过SEM检查
  • 裸针阻值在50欧姆以下
  • 经过衡升科技独特MST技术，以增加产品的均匀性
  • 适用于2nm以下制程故障分析

材质 纯钨 镀膜 NA
线径(WD) 0.25mm 总针长(TPL)  12.5mm
针尖长度(TC) 2.5mm 针尖宽度(TBD) -
针尖夹角 - 曲率半径(CR) 1nm
弯针服务 YES 套不锈钢管服务 -
应用 2nm以下制程元件故障分析

 

MSCT - SA 025 TPL013 TC025 - CR1
    (1) (2) (3) (4)   (5)
  1. 探针应用: SA系列使用在SEM的奈米点针机台做电性量测分析
  2. 探针线径(WD): 0.25mm
  3. 总针长(TPL): 12.5mm
  4. 针尖长度(TC): 2.5mm
  5. 曲率半径(CR): 1nm
    针尖到100nm的位置，直径范围为25nm-35nm
  6. 探针预弯服务。
    标准弯针角度为34度，可依客户指定调整。

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