衡陞科技提供 Nano Probing 的Direct Short 解決方案
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- 2021-10-12
使用Nano Probing 定位Direct Short defect點
在傳統的故障分析手法中，Direct Short 一直是讓使用者頭痛的問題之一。由於阻值偏低，EBIRCH無法呈現明顯訊號 ; EBAC又會讓所有導通的路徑都亮起。
衡陞科技使用最先進的E-Beam Amplifier 可以準確定位200 ohm 以下的short異常點
透過Nano Probing 搭配E-Beam定位手法判讀low ohmic 訊號位置
旋轉角度並且Zoom in 確認訊號真偽
