TEM 樣品製備金屬探針

在電子顯微鏡下的樣品製備金屬探針規格，是依據不同針尖的半徑，針尖2um以下的針身直徑以及針身長，來定義強壯的針身。有兩種的針身直徑，兩種不同的針錐長，兩種針錐型式，以及四種不同的曲率半徑供客戶做選擇。有著小針身長針錐規範的探針，對於切除樣品的過程，能提供更長的切割長度，會比有著大針身規範的探針來的有優勢。這能增加探針的使用壽命，並且針尖較小的探針對於lamella的樣品抓取也非常的有效益。

特色介紹:

CR (針尖曲率半徑) 有四種選項: 50nm, 75nm, and 250nm.

CBD (針身直徑) 有三種選項: 250nm, 500nm, and 1000nm.

針身錐長(L) 有五種選項: L1, L2, UL1, UL2, and standard type